کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
4971600 1450524 2017 13 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Effective scan chain failure analysis method
ترجمه فارسی عنوان
روش تجزیه و تحلیل شکست زنجیره اسکن موثر
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی

- Failure analysis on product scan chain failure flow overview
- Full CAD navigation suite software for failure analysis
- Optimization of diagnosis tools for success rate for scan chain failures
- New pattern generation for diagnosis improvement and fault isolation
- State of the art for use of emission microscopy and laser technic for scan chain failures
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volumes 76–77, September 2017, Pages 201-213
نویسندگان
, , , , ,