کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
4971600 | 1450524 | 2017 | 13 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Effective scan chain failure analysis method
ترجمه فارسی عنوان
روش تجزیه و تحلیل شکست زنجیره اسکن موثر
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
- Failure analysis on product scan chain failure flow overview
- Full CAD navigation suite software for failure analysis
- Optimization of diagnosis tools for success rate for scan chain failures
- New pattern generation for diagnosis improvement and fault isolation
- State of the art for use of emission microscopy and laser technic for scan chain failures
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volumes 76â77, September 2017, Pages 201-213
Journal: Microelectronics Reliability - Volumes 76â77, September 2017, Pages 201-213
نویسندگان
Etienne Auvray, Paul Armagnat, Luc Saury, Maheshwaran Jothi, Michael Brügel,