کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
4971808 | 1450536 | 2016 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Permanent and single event transient faults reliability evaluation EDA tool
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
In nanotechnology domain, reliability is a fundamental concern in the design and manufacturing process of VLSI circuits. Thus, this paper presents a tool developed to evaluate the reliability of logic cells in order to provide a set of information to improve design robustness. The tool is able to evaluate logic cells under Single Event Transient (SET) faults and, also, permanent faults such as Stuck-On (SOnF) and Stuck-Open (SOF). The information produced by this tool help designers to choose the most reliable cells to be adopted in their designs.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 64, September 2016, Pages 63-67
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 64, September 2016, Pages 63-67
نویسندگان
Y.Q. de Aguiar, A.L. Zimpeck, C. Meinhardt, R. Reis,