کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
4971811 | 1450536 | 2016 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Early life field failures in modern automotive electronics - An overview; root causes and precautions
ترجمه فارسی عنوان
شکست در زمینه زودرس زندگی در الکترونیک خودروهای مدرن - یک مرور کلی؛ ریشه ها و اقدامات احتیاطی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
قابلیت اطمینان الکترونیک خودرو خرابی های اولیه در الکترونیک خودرو،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
Forensic failure analysis of automotive electronics deals in most cases with failures within the guarantee period. Frequently, specific operational conditions, even for a short moment, combine with specific electronic sensitivities - against ESD discharge, switching spikes, humidity ingress, vibration, undefined grounding circuitry. The paper lists impressive, partially curious examples of related failure anamnesis and analysis and tries to draw some important conclusions with respect to prevention and failure anamnesis/failure analysis methodologies.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 64, September 2016, Pages 79-83
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 64, September 2016, Pages 79-83
نویسندگان
P. Jacob,