کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
4971819 1450536 2016 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Fatigue life prediction model for accelerated testing of electronic components under non-Gaussian random vibration excitations
ترجمه فارسی عنوان
مدل پیش بینی عملکرد خستگی برای تسریع تست قطعات الکترونیکی تحت تحریکات غیر تصادفی غایی گاوس
کلمات کلیدی
پیش بینی عمر خستگی، تست سریع اجزای الکترونیکی، غیر گاوسی، ارتعاش تصادفی،
ترجمه چکیده
در این مقاله، یک مدل پیش بینی شده برای پیش بینی عمر خستگی جدید برای اجزای سازنده های الکترونیکی تحت تحریک های غیرواقعی تصادفی غیر غایی بر مبنای تئوری ارتعاش و خستگی تصادفی پیشنهاد شده است. این مدل ریاضی جامع ارتباط عمر خستگی ارتعاش قطعات الکترونیکی، ویژگی های تحرک ارتعاش (مانند مربع ریشه، چگالی طیفی قدرت، پهنای باند طیفی و ارزش کورتوز) و ویژگی های انتقال پویا یک مجموعه الکترونیکی (مانند طبیعی فرکانس و نسبت سقوط) با هم. در همین حال روش حل دقیق برای تعیین پارامترهای ناشناخته در مدل ارائه شده است. برای تایید مدل، یک سری آزمایشی شتاب سنج ارتعاش تصادفی انجام شد. نتایج بدست آمده نشان می دهد که عمر خستگی پیش بینی شده بر اساس مدل با آزمایش واقعی توافق شده است. این مدل پیش بینی عمر خستگی می تواند برای طراحی کمی تست شتاب خستگی ارتعاشی استفاده شود که می تواند برای ارزیابی قابلیت اطمینان خستگی درازمدت قطعات الکترونیکی تحت شرایط محیطی گازی و غیر غایی مورد استفاده قرار گیرد.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش مقاله
مدل پیش بینی عملکرد خستگی برای تسریع تست قطعات الکترونیکی تحت تحریکات غیر تصادفی غایی گاوس
چکیده انگلیسی
In this paper, a novel fatigue life prediction model for electronic components under non-Gaussian random vibration excitations is proposed based on random vibration and fatigue theory. This mathematical model comprehensively associates the vibration fatigue life of electronic components, the characteristics of vibration excitations (such as the root mean square, power spectral density, spectral bandwidth and kurtosis value) and the dynamic transfer characteristics of an electronic assembly (such as the natural frequency and damping ratio) together. Meanwhile a detailed solving method was also presented for determining the unknown parameters in the model. To verify the model, a series of random vibration fatigue accelerated tests were conducted. The results obtained show that the predicted fatigue life based on the model agreed with actual testing. This fatigue life prediction model can be used for the quantitative design of vibration fatigue accelerated testing, which can be applied to assess the long-term fatigue reliability of electronic components under Gaussian and non-Gaussian random vibration environments.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 64, September 2016, Pages 120-124
نویسندگان
, , , ,