کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
4971864 | 1450536 | 2016 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Application of laser deprocessing technique in PFA on chemical over-etched on bond-pad issue
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
In this paper, the application of laser deprocessing technique is proposed to solve the bond pad over-etched issue. This proposed technique is a quick and reversal way in deprocessing technique for defect identification in PFA.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 64, September 2016, Pages 357-361
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 64, September 2016, Pages 357-361
نویسندگان
H.H. Yap, P.K. Tan, L. Zhu, H. Feng, Y.Z. Zhao, R. He, H. Tan, B. Liu, Y.M. Huang, D.D. Wang, J. Lam, Z.H. Mai,