کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5024322 1470266 2017 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Enhanced electrical conductivity and reliability for flexible copper thin-film electrode by introducing aluminum buffer layer
ترجمه فارسی عنوان
القای هدایت الکتریکی و قابلیت اطمینان الکترود نازک مسی انعطاف پذیر با معرفی لایه بافر آلومینیومی
کلمات کلیدی
الکترودهای نازک مسی قابل انعطاف، لایه بافر آلومینیوم، چسبندگی، رسانایی الکتریکی، قابلیت اطمینان مکانیکی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مهندسی (عمومی)
پیش نمایش مقاله
القای هدایت الکتریکی و قابلیت اطمینان الکترود نازک مسی انعطاف پذیر با معرفی لایه بافر آلومینیومی
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials & Design - Volume 116, 15 February 2017, Pages 524-530
نویسندگان
, , , , , ,