کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5030557 1470826 2017 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Holographic Interferometry of Thin-walled Structure Distortion During the Stereolithography Process
ترجمه فارسی عنوان
تفاضلی هولوگرافی از اعوجاج ساختار نازک دیواره در طول فرآیند استریولیتوگرافی
کلمات کلیدی
استریولیتوگرافی، عکسبرداری، فرایند رشد، انقباض اعوجاج شکل، مطالعه تجربی، تداخل سنجی هولوگرافی،
ترجمه چکیده
مقاله حاضر با هدف بررسی تجربی برای تحریف شکل هندسی ساختارهای نازک دیواره تولید شده توسط تکنیک های استریولیتوگرافی انجام شده است. پیشنهاد شده است که تخریب کل، به علت لایه بردار فوتوپلیمریزه شدن، می تواند با استفاده از داده های تجربی مربوط به اعوجاج ناشی از ترمیم لایه های متوسط ​​یا نهایی تنها برآورد شود. آزمایشات از یک نمونه در شکل یک مکعب توخالی استفاده کردند. اعوجاج مکعب با استفاده از تداخل سنجی هولوگرافی زمان متوسط ​​ثبت می شود.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مهندسی (عمومی)
چکیده انگلیسی
The present paper aimed at experimental study for the distortion of geometrical shape of thin walled structures manufactured by stereolithography technologies. It is proposed that total distortion occurring due to layer-by-layer photopolymerisation can be estimate using experimental data about distortion caused by curing single intermediate or final layer. The experiments used a sample in the form of a hollow cube. The distortion of the cube is recorded using time-average holographic interferometry.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Procedia IUTAM - Volume 23, 2017, Pages 101-107
نویسندگان
, , ,