کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
512401 | 866404 | 2014 | 14 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
The method of fundamental solutions for complex electrical impedance tomography
ترجمه فارسی عنوان
روش راه حل های اساسی برای توموگرافی امپدانس پیچیده الکتریکی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
نرم افزارهای علوم کامپیوتر
چکیده انگلیسی
The forward problem for complex electrical impedance tomography (EIT) is solved by means of a meshless method, namely the method of fundamental solutions (MFS). The MFS for the complex EIT direct problem is numerically implemented, and its efficiency and accuracy as well as the numerical convergence of the MFS solution are analysed when assuming the presence in the medium (i.e. background) of one or two inclusions with the physical properties different from those corresponding to the background. Four numerical examples with inclusion(s) of various convex and non-convex smooth shapes (e.g. circular, elliptic, peanut-shaped and acorn-shaped) and sizes are presented and thoroughly investigated.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Engineering Analysis with Boundary Elements - Volume 46, September 2014, Pages 126–139
Journal: Engineering Analysis with Boundary Elements - Volume 46, September 2014, Pages 126–139
نویسندگان
Marjan Asadzadeh Heravi, Liviu Marin, Cristiana Sebu,