کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5144062 | 1496816 | 2017 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Time-resolved kelvin probe force microscopy to study population and depopulation of traps in electron or hole majority organic semiconductors
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Organic Electronics - Volume 41, February 2017, Pages 26-32
Journal: Organic Electronics - Volume 41, February 2017, Pages 26-32
نویسندگان
Jason P. Moscatello, Chloe V. Castaneda, Alyina Zaidi, Minxuan Cao, Ozlem Usluer, Alejandro L. Briseno, Katherine E. Aidala,