کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5144237 1496815 2017 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Quantitative estimation of exciton quenching strength at interface of charge injection layers and organic semiconductor
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Quantitative estimation of exciton quenching strength at interface of charge injection layers and organic semiconductor
چکیده انگلیسی
Exciton quenching dynamics of optically excited organic semiconductor interfaced with various commonly used charge injection layers (CILs) in optoelectronic devices.239
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Organic Electronics - Volume 42, March 2017, Pages 28-33
نویسندگان
, , , ,