کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5144237 | 1496815 | 2017 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Quantitative estimation of exciton quenching strength at interface of charge injection layers and organic semiconductor
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Exciton quenching dynamics of optically excited organic semiconductor interfaced with various commonly used charge injection layers (CILs) in optoelectronic devices.239
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Organic Electronics - Volume 42, March 2017, Pages 28-33
Journal: Organic Electronics - Volume 42, March 2017, Pages 28-33
نویسندگان
Aravindh Kumar, Amrita Dey, Anjali Dhir, Dinesh Kabra,