کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5347132 1503558 2017 19 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Sub-nanometer resolution XPS depth profiling: Sensing of atoms
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Sub-nanometer resolution XPS depth profiling: Sensing of atoms
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 411, 31 July 2017, Pages 386-393
نویسندگان
, , , , , , ,