کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5347132 | 1503558 | 2017 | 19 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Sub-nanometer resolution XPS depth profiling: Sensing of atoms
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 411, 31 July 2017, Pages 386-393
Journal: Applied Surface Science - Volume 411, 31 July 2017, Pages 386-393
نویسندگان
Marek Szklarczyk, Karol Macak, Adam J. Roberts, Kazuhiro Takahashi, Simon Hutton, RafaÅ GÅaszczka, Christopher Blomfield,