کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5347713 | 1388052 | 2017 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Spectroscopic ellipsometry of columnar porous Si thin films and Si nanowires
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 421, Part B, 1 November 2017, Pages 397-404
Journal: Applied Surface Science - Volume 421, Part B, 1 November 2017, Pages 397-404
نویسندگان
Bálint Fodor, Thomas Defforge, Emil Agócs, Miklós Fried, Gaël Gautier, Péter Petrik,