کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5347718 | 1388052 | 2017 | 20 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Spectroscopic imaging ellipsometry for automated search of flakes of mono- and n-layers of 2D-materials
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Spectroscopic imaging ellipsometry for automated search of flakes of mono- and n-layers of 2D-materials Spectroscopic imaging ellipsometry for automated search of flakes of mono- and n-layers of 2D-materials](/preview/png/5347718.png)
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 421, Part B, 1 November 2017, Pages 435-439
Journal: Applied Surface Science - Volume 421, Part B, 1 November 2017, Pages 435-439
نویسندگان
S. Funke, U. Wurstbauer, B. Miller, A. MatkoviÄ, A. Green, A. Diebold, C. Röling, P.H. Thiesen,