کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5347719 | 1388052 | 2017 | 13 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Infrared-spectroscopic single-shot laser mapping ellipsometry: Proof of concept for fast investigations of structured surfaces and interactions in organic thin films
ترجمه فارسی عنوان
طیف سنجی مادون قرمز تلسکوپ یکپارچه شبیه سازی: اثبات مفهوم برای تحقیقات سریع سطوح ساختار یافته و تعامل در فیلم های نازک آلی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
طیف سنجی مادون قرمز تلسکوپ یکپارچه لیزر نقشه برداری، سطوح ساختاری، تعاملات مولکولی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 421, Part B, 1 November 2017, Pages 440-445
Journal: Applied Surface Science - Volume 421, Part B, 1 November 2017, Pages 440-445
نویسندگان
Andreas Furchner, Christoph Kratz, Dimitra Gkogkou, Helge Ketelsen, Karsten Hinrichs,