کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5347719 1388052 2017 13 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Infrared-spectroscopic single-shot laser mapping ellipsometry: Proof of concept for fast investigations of structured surfaces and interactions in organic thin films
ترجمه فارسی عنوان
طیف سنجی مادون قرمز تلسکوپ یکپارچه شبیه سازی: اثبات مفهوم برای تحقیقات سریع سطوح ساختار یافته و تعامل در فیلم های نازک آلی
کلمات کلیدی
طیف سنجی مادون قرمز تلسکوپ یکپارچه لیزر نقشه برداری، سطوح ساختاری، تعاملات مولکولی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 421, Part B, 1 November 2017, Pages 440-445
نویسندگان
, , , , ,