کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5347735 1388052 2017 26 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Spectroscopic imaging ellipsometry of self-assembled SiGe/Si nanostructures
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Spectroscopic imaging ellipsometry of self-assembled SiGe/Si nanostructures
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 421, Part B, 1 November 2017, Pages 547-552
نویسندگان
, , , , , , , , ,