کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5350276 | 1503659 | 2014 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Atomic force microscopy on phase-control pulsed force mode in water: Imaging and force analysis on a rhodium-octaethylporphyrin layer on highly oriented pyrolytic graphite
ترجمه فارسی عنوان
میکروسکوپ نیروی اتمی در حالت نیروی پالس فاز در آب: بررسی تصویری و نیرویی بر روی یک لایه ردیوم-اکتاذیلپورفیرین بر روی گرافیت پیرولیتی بسیار متمرکز
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
چکیده انگلیسی
We developed phase-control pulsed force mode (p-PFM) as the operation mode for atomic force microscopy (AFM). The p-PFM allowed us to observe soft or weakly adsorbed materials in a liquid environment using a conventional AFM apparatus, and allowed for force curve mapping (FCM) after offline data processing. We applied the p-PFM to a rhodium-octaethylporphyrin (RhOEP) layer on highly oriented pyrolytic graphite (HOPG), which is applicable to anode catalysts of fuel cells. The RhOEP/HOPG system was stably observed in water by this mode. In the p-PFM image, we found both large and small protrusions, which were not observed in the dynamic force mode, in air. The detailed force analysis suggested that these protrusions are nanobubbles located on the HOPG substrate exposed in holes or pits of the RhOEP layer.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 305, 30 June 2014, Pages 111-116
Journal: Applied Surface Science - Volume 305, 30 June 2014, Pages 111-116
نویسندگان
Yasushi Maeda, Shin-ichi Yamazaki, Masanori Kohyama,