کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5351817 | 1503676 | 2014 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Atomic scale fabrication of dangling bond structures on hydrogen passivated Si(0Â 0Â 1) wafers processed and nanopackaged in a clean room environment
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
- High quality Si(0Â 0Â 1):H surface is obtained in a cleanroom environment.
- The transportation of Si:H surfaces in ambient conditions is feasible due to protection by a temporarily bonded cap.
- The quality of UHV de-bonded Si:H surfaces allows for construction of DB nanostructures.
- We characterize the DBs on Si(0Â 0Â 1):H surfaces by means of LT-STM/STS.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 288, 1 January 2014, Pages 83-89
Journal: Applied Surface Science - Volume 288, 1 January 2014, Pages 83-89
نویسندگان
Marek Kolmer, Szymon Godlewski, Rafal Zuzak, Mateusz Wojtaszek, Caroline Rauer, Aurélie Thuaire, Jean-Michel Hartmann, Hubert Moriceau, Christian Joachim, Marek Szymonski,