کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5351817 1503676 2014 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Atomic scale fabrication of dangling bond structures on hydrogen passivated Si(0 0 1) wafers processed and nanopackaged in a clean room environment
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Atomic scale fabrication of dangling bond structures on hydrogen passivated Si(0 0 1) wafers processed and nanopackaged in a clean room environment
چکیده انگلیسی

- High quality Si(0 0 1):H surface is obtained in a cleanroom environment.
- The transportation of Si:H surfaces in ambient conditions is feasible due to protection by a temporarily bonded cap.
- The quality of UHV de-bonded Si:H surfaces allows for construction of DB nanostructures.
- We characterize the DBs on Si(0 0 1):H surfaces by means of LT-STM/STS.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 288, 1 January 2014, Pages 83-89
نویسندگان
, , , , , , , , , ,