کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5352430 1503566 2017 35 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Structural characterization of the interface structure of amorphous silicon thin films after post-deposition argon or hydrogen plasma treatment
ترجمه فارسی عنوان
خصوصیات ساختاری ساختار رابط سیلیکون های غیرفشرده از فیلم های نازک پس از رسوب آرگون یا درمان پراش هیدروژن
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش مقاله
خصوصیات ساختاری ساختار رابط سیلیکون های غیرفشرده از فیلم های نازک پس از رسوب آرگون یا درمان پراش هیدروژن
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 403, 1 May 2017, Pages 200-205
نویسندگان
, , , ,