کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5352843 | 1503594 | 2016 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Thickness-dependent spin-resolved photoemission from ultrathin Ag films on Si(111)
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Thickness-dependent spin-resolved photoemission from ultrathin Ag films on Si(111) Thickness-dependent spin-resolved photoemission from ultrathin Ag films on Si(111)](/preview/png/5352843.png)
چکیده انگلیسی
Electronic structure of ultrathin Ag films on Si(111) is investigated with spin- and angle-resolved photoemission spectroscopy using unpolarized light. Photoelectrons leaving d states of Ag reveal spin polarization with the polarization vector parallel to the sample surface. The effect is observed for the Ag films which have bulk-like crystallographic structure with coverages down to 1 monolayer, for Ag wetting layer on Si(111)-(7Â ÃÂ 7) and Si(111)-(3Ã3)Ag surface. It is found that the polarization magnitude increases with Ag thickness. The observed changes have been attributed to the changes in the Ag film morphology.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 373, 15 June 2016, Pages 73-78
Journal: Applied Surface Science - Volume 373, 15 June 2016, Pages 73-78
نویسندگان
R. Zdyb, M. KopciuszyÅski,