کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5352850 | 1503682 | 2013 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Towards FDTD modeling of spectroscopic ellipsometry data at large angles of incidence
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Quantitative optical simulation of thin film with sub-monolayer resolution ⺠Relationship between MSE and AoI for SE data by FDTD ⺠Addressed and solve problems (e.g. artifact resonance in bloch boundary condition (BBC)) in achieving quantitative optical modeling at large AoI of 70°.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 281, 15 September 2013, Pages 2-7
Journal: Applied Surface Science - Volume 281, 15 September 2013, Pages 2-7
نویسندگان
King Tai Cheung, Yishu Foo, Chap Hang To, Juan Antonio Zapien,