کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5352869 1503682 2013 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Spectroellipsometric characterization of nanocrystalline diamond layers
ترجمه فارسی عنوان
خصوصیات طیف سنجی لایه های الماس نانوکریستالی
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش مقاله
خصوصیات طیف سنجی لایه های الماس نانوکریستالی
چکیده انگلیسی
► Deposited nanocrystalline diamond films on silicon substrate. ► Developed multilayer optical models. ► Determined film thickness, optical properties from ellipsometry.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 281, 15 September 2013, Pages 113-117
نویسندگان
, , , ,