کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5352871 | 1503682 | 2013 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Characterization of ZnO structures by optical and X-ray methods
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Characterization of ZnO structures by optical and X-ray methods Characterization of ZnO structures by optical and X-ray methods](/preview/png/5352871.png)
چکیده انگلیسی
⺠Comparison of optical and X-ray results on GaInZnO samples with Ga < 1 at%. ⺠Elemental composition determined by reference-free X-ray fluorescence. ⺠Correlation of the Raman-active dopant mode from Ga at 580 cmâ1 with the Ga concentration. ⺠Surface nanoroughness taken into account for determination of accurate optical properties. ⺠Both the peak amplitude and the gap energy of ϵ2 increase as a result of annealing and decrease with increasing Ga content.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 281, 15 September 2013, Pages 123-128
Journal: Applied Surface Science - Volume 281, 15 September 2013, Pages 123-128
نویسندگان
P. Petrik, B. Pollakowski, S. Zakel, T. Gumprecht, B. Beckhoff, M. Lemberger, Z. Labadi, Z. Baji, M. Jank, A. Nutsch,