کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5353193 | 1503601 | 2016 | 14 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Probing stem cell differentiation using atomic force microscopy
ترجمه فارسی عنوان
بررسی تمایز سلول های بنیادی با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
میکروسکوپ نیروی اتمی، تمایز سلول های بنیادی، ملک مکانیکی سلول، ماتریکس غیر سلولی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
چکیده انگلیسی
- Atomic force microscopy (AFM) was developed to probe stem cell differentiation.
- The mechanical properties of stem cells and their ECMs can be used to clearly distinguish specific stem cell-differentiated lineages.
- AFM is a facile and useful tool for monitoring stem cell differentiation in a non-invasive manner.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 366, 15 March 2016, Pages 254-259
Journal: Applied Surface Science - Volume 366, 15 March 2016, Pages 254-259
نویسندگان
Xiaobin Liang, Xuetao Shi, Serge Ostrovidov, Hongkai Wu, Ken Nakajima,