کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5353193 1503601 2016 14 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Probing stem cell differentiation using atomic force microscopy
ترجمه فارسی عنوان
بررسی تمایز سلول های بنیادی با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی
کلمات کلیدی
میکروسکوپ نیروی اتمی، تمایز سلول های بنیادی، ملک مکانیکی سلول، ماتریکس غیر سلولی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
چکیده انگلیسی

- Atomic force microscopy (AFM) was developed to probe stem cell differentiation.
- The mechanical properties of stem cells and their ECMs can be used to clearly distinguish specific stem cell-differentiated lineages.
- AFM is a facile and useful tool for monitoring stem cell differentiation in a non-invasive manner.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 366, 15 March 2016, Pages 254-259
نویسندگان
, , , , ,