کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5354154 | 1503583 | 2016 | 21 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Structure and roughness analysis of thin epitaxial Pd films grown on Cu/Si(111) surface
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 384, 30 October 2016, Pages 406-412
Journal: Applied Surface Science - Volume 384, 30 October 2016, Pages 406-412
نویسندگان
A.V. Davydenko, A.G. Kozlov, A.V. Ognev, M.E. Stebliy, L.A. Chebotkevich,