کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5354439 1503690 2013 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Metal-assisted homogeneous etching of single crystal silicon: A novel approach to obtain an ultra-thin silicon wafer
ترجمه فارسی عنوان
اچ یک همگن از سیلیکون تک کریستال به روش متال: روش جدید برای به دست آوردن ویفر سیلیکون فوق العاده نازک
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
چکیده انگلیسی
► Homogeneous etching of silicon is achieved, it offers a simple route to get ultra-thin silicon wafer with thickness below 50 μm. ► The surface of the ultra-thin silicon wafer is smooth at the nanometer scale across a large wafer area, and its surface roughness is around 10 nm. ► Any thickness of silicon wafer within 30-180 μm can be obtained by this method.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 273, 15 May 2013, Pages 107-110
نویسندگان
, , , , , ,