کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5354886 | 1503597 | 2016 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
In situ observation of low temperature growth of Ge on Si(1Â 1Â 1) by reflection high energy electron diffraction
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 370, 1 May 2016, Pages 40-48
Journal: Applied Surface Science - Volume 370, 1 May 2016, Pages 40-48
نویسندگان
Andreas Grimm, Andreas Fissel, Eberhard Bugiel, Tobias F. Wietler,