کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5354897 1503597 2016 24 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Electrical evaluation of crack generation in SiNx and SiOxNy thin-film encapsulation layers for OLED displays
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Electrical evaluation of crack generation in SiNx and SiOxNy thin-film encapsulation layers for OLED displays
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 370, 1 May 2016, Pages 126-130
نویسندگان
, , , ,