کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5357087 | 1388213 | 2012 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
On the surface characterization of an Al2O3 charge state conversion surface using ion scattering and atomic force microscope measurements
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Thermal certification campaigns on charge state conversion surfaces were performed. ⺠Ion scattering and AFM instruments were used to characterize surface properties. ⺠AFM images showed no significant changes in surface roughness. ⺠Ion scattering instrument was sensitive enough to measure changes on sub atomic level.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 258, Issue 19, 15 July 2012, Pages 7292-7298
Journal: Applied Surface Science - Volume 258, Issue 19, 15 July 2012, Pages 7292-7298
نویسندگان
A. Riedo, M. Ruosch, M. Frenz, J.A. Scheer, P. Wurz,