کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5357427 1388218 2012 8 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Full depth profile of passive films on 316L stainless steel based on high resolution HAXPES in combination with ARXPS
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Full depth profile of passive films on 316L stainless steel based on high resolution HAXPES in combination with ARXPS
چکیده انگلیسی
► Depth profiles of passive films and the chemical content underneath the film on stainless steel by combining ARXPS and HAXPES. ► Nickel is enriched underneath the passive film in the bulk. ► Three different chromium oxides were found in the high resolution HAXPES spectra.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 258, Issue 15, 15 May 2012, Pages 5790-5797
نویسندگان
, , , , ,