کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5357427 | 1388218 | 2012 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Full depth profile of passive films on 316L stainless steel based on high resolution HAXPES in combination with ARXPS
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠Depth profiles of passive films and the chemical content underneath the film on stainless steel by combining ARXPS and HAXPES. ⺠Nickel is enriched underneath the passive film in the bulk. ⺠Three different chromium oxides were found in the high resolution HAXPES spectra.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 258, Issue 15, 15 May 2012, Pages 5790-5797
Journal: Applied Surface Science - Volume 258, Issue 15, 15 May 2012, Pages 5790-5797
نویسندگان
W. Fredriksson, S. Malmgren, T. Gustafsson, M. Gorgoi, K. Edström,