| کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
|---|---|---|---|---|
| 5358619 | 1388235 | 2011 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Composition depth profiles of Bi3.15Nd0.85Ti3O12 thin films studied by X-ray photoelectron spectroscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Composition depth profiles of the BNT film are studied by XPS. ⺠Chemical compositions are divided into three regions along the film depth. ⺠Compositions are uniform in the bulk film. ⺠Ar+-ion sputtering changes lots of Bi3+ ions into Bi0.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 257, Issue 17, 15 June 2011, Pages 7461-7465
Journal: Applied Surface Science - Volume 257, Issue 17, 15 June 2011, Pages 7461-7465
نویسندگان
Z.H. Zhang, X.L. Zhong, H. Liao, F. Wang, J.B. Wang, Y.C. Zhou,