کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5359157 1388243 2017 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
X-ray and neutron studies of nanoscale atomic diffusion in thin films and multilayers
ترجمه فارسی عنوان
اشعه ایکس و مطالعات نوترون در مورد انتشار اتمی نانومواد در فیلم های نازک و چند لایه
کلمات کلیدی
خود نفوذ، بین دیفوزیون، فیلم های نازک چند لایه، اشعه ایکس و بازتابندگی نوترون، بازتابندگی رزونانس هسته ای، امواج ایستا اشعه ایکس،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
چکیده انگلیسی
In the present work we review some X-ray and neutron based techniques capable of measuring diffusion lengths in thin films with an accuracy of a fraction of a nanometer. The techniques have been used for studying both self-diffusion of the constituent species in a thin film, as well as interdiffusion at the interfaces in multilayers. The high accuracy of the techniques in depth profiling of an element or a specific isotope makes very low diffusivities ∼10−23 m2/s, amenable to measurements, and allows one to study the subtle effects of factors like internal stresses or structural relaxation on self-diffusion in compositionally homogeneous films. Depth selectivity of X-ray standing wave technique in multilayers makes it possible to distinguish between diffusion at the two types of the interfaces, namely A-on-B and B-on-A, in a single multilayer structure.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Brought to you by:College of Engineering Chengannur - 'Renewal due by 31 Dec 2017'
نویسندگان
,