کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5360105 | 1503687 | 2013 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
X-ray photoelectron spectroscopy investigation of commercial passivated tinplate surface layer
ترجمه فارسی عنوان
بررسی طیف سنجی اشعه ایکس اشعه ایکس لایه سطحی ورقه ای تجاری
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس، مشخصات عمق، قلع لایه سطحی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
چکیده انگلیسی
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) combined with the low energy Ar+ sputtering technique has been used to investigate the chemical compositions and chemical states of elements at different depths of commercial passivated tinplate surface layer. It is found that Cr2O3, SnO, Cr(OH)3, metallic Sn and a small amount of metallic Cr have been mixed in this layer. According to peak fitting and relative sensitivity factor method, the concentrations of elements in various chemical environments on different depth planes of the passivated tinplate surface layer have been obtained.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 276, 1 July 2013, Pages 454-457
Journal: Applied Surface Science - Volume 276, 1 July 2013, Pages 454-457
نویسندگان
Sheng Chen, Long Xie, Fei Xue,