کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5360105 1503687 2013 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
X-ray photoelectron spectroscopy investigation of commercial passivated tinplate surface layer
ترجمه فارسی عنوان
بررسی طیف سنجی اشعه ایکس اشعه ایکس لایه سطحی ورقه ای تجاری
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
چکیده انگلیسی
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) combined with the low energy Ar+ sputtering technique has been used to investigate the chemical compositions and chemical states of elements at different depths of commercial passivated tinplate surface layer. It is found that Cr2O3, SnO, Cr(OH)3, metallic Sn and a small amount of metallic Cr have been mixed in this layer. According to peak fitting and relative sensitivity factor method, the concentrations of elements in various chemical environments on different depth planes of the passivated tinplate surface layer have been obtained.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 276, 1 July 2013, Pages 454-457
نویسندگان
, , ,