کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5360258 | 1503688 | 2013 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Position dependant critical thickness in finite epitaxial systems
ترجمه فارسی عنوان
ضخامت انتقادی بستگی در سیستم های اپتیکال محدود دارد
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
پوسته اپیتاکسیال، جابجایی نامنظم بینشی، ضخامت انتقادی، روش عنصر محدود
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
چکیده انگلیسی
⺠FE methodology is a development for the critical thickness variation in finite epitaxial systems. ⺠The reasons as to why interfacial dislocations cannot 'punch-in' directly from the free lateral surface are addressed. ⺠The region close to the free lateral surface, where critical thickness value diverges is determined.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 275, 15 June 2013, Pages 60-64
Journal: Applied Surface Science - Volume 275, 15 June 2013, Pages 60-64
نویسندگان
Arun Kumar, Anandh Subramaniam,