کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5360772 | 1388265 | 2008 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Study of buried Si(1Â 1Â 1)-5Â ÃÂ 2-Au by surface X-ray diffraction
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The structure of buried Si(1Â 1Â 1)-5Â ÃÂ 2-Au capped with amorphous Si was investigated using surface X-ray diffraction. It was found that the 5Â ÃÂ 2 structural periodicity is kept under the amorphous Si from the in-plane measurement. Furthermore, the intensity variation along the fractional-order rod indicates that Au atoms are located almost on the same plane.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 254, Issue 23, 30 September 2008, Pages 7803-7806
Journal: Applied Surface Science - Volume 254, Issue 23, 30 September 2008, Pages 7803-7806
نویسندگان
Yusaku Iwasawa, Wolfgang Voegeli, Tetsuroh Shirasawa, Kouji Sekiguchi, Takehiro Nojima, Ryuji Yoshida, Toshio Takahashi, Masuaki Matsumoto, Tatsuo Okano, Koichi Akimoto, Hiroshi Kawata, Hiroshi Sugiyama,