کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5360772 1388265 2008 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Study of buried Si(1 1 1)-5 × 2-Au by surface X-ray diffraction
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Study of buried Si(1 1 1)-5 × 2-Au by surface X-ray diffraction
چکیده انگلیسی
The structure of buried Si(1 1 1)-5 × 2-Au capped with amorphous Si was investigated using surface X-ray diffraction. It was found that the 5 × 2 structural periodicity is kept under the amorphous Si from the in-plane measurement. Furthermore, the intensity variation along the fractional-order rod indicates that Au atoms are located almost on the same plane.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 254, Issue 23, 30 September 2008, Pages 7803-7806
نویسندگان
, , , , , , , , , , , ,