کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5362117 | 1388281 | 2012 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Correlation between molecular secondary ion yield and cluster ion sputtering for samples with different stopping powers
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠Power dependency of secondary ion yield on sputtering yield. ⺠Yield enhancement per primary ion constituent decreases with increasing cluster size. ⺠Prediction of secondary ion yield enhancement as a function of primary ion species. ⺠Prediction of degree of fragmentation of sputtered molecules from different samples.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 258, Issue 18, 1 July 2012, Pages 6993-6999
Journal: Applied Surface Science - Volume 258, Issue 18, 1 July 2012, Pages 6993-6999
نویسندگان
A. Heile, C. Muhmann, D. Lipinsky, H.F. Arlinghaus,