کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5362759 | 1388292 | 2012 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Field-emission-induced electromigration method for the integration of single-electron transistors
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Simple and easy method for the integration of Ni-based SETs was developed. ⺠The integration of two SETs with similar electrical properties was achieved. ⺠The charging energy of the integrated SETs was simultaneously controlled.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 258, Issue 6, 1 January 2012, Pages 2153-2156
Journal: Applied Surface Science - Volume 258, Issue 6, 1 January 2012, Pages 2153-2156
نویسندگان
Shunsuke Ueno, Yusuke Tomoda, Watari Kume, Michinobu Hanada, Kazutoshi Takiya, Jun-ichi Shirakashi,