کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5362918 | 1388294 | 2011 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Study of effect annealing temperature on the structure, morphology and photocatalytic activity of Si doped TiO2 thin films deposited by electron beam evaporation
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠Si-TiO2 target has been simply prepared and the corresponding film was deposited on quartz glass substrates by electron beam evaporation. ⺠It can be demonstrated the annealing temperature had significant effect on the structure, phase transition temperature and surface morphology of Si-TiO2 thin films. ⺠The Si-TiO2 films exhibit better photocatalytic efficiency owing to the reduction of the photo-generated electron and holes recombination rate under illumination.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 257, Issue 24, 1 October 2011, Pages 10715-10720
Journal: Applied Surface Science - Volume 257, Issue 24, 1 October 2011, Pages 10715-10720
نویسندگان
Zhongdan Lu, Xiaohong Jiang, Bing Zhou, Xiaodong Wu, Lude Lu,