کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5363472 | 1503696 | 2013 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Near surface layer evolution in Zn+ ions implanted Si upon annealing treatments
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠SIMS revealed a significant redistribution of Zn atoms after annealing. ⺠After thermal annealing at 800 °C nanoparticles on the sample surface were revealed. ⺠After 1000 °C annealing Zn atoms are revealed in the near-surface layer only. ⺠XRD confirms a presence of Zn containing phases after 700-900 °C annealing.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 267, 15 February 2013, Pages 97-100
Journal: Applied Surface Science - Volume 267, 15 February 2013, Pages 97-100
نویسندگان
V.V. Saraykin, K.D. Shcherbachev, D.V. Petrov, V.V. Privezentsev,