کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5363472 1503696 2013 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Near surface layer evolution in Zn+ ions implanted Si upon annealing treatments
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Near surface layer evolution in Zn+ ions implanted Si upon annealing treatments
چکیده انگلیسی
► SIMS revealed a significant redistribution of Zn atoms after annealing. ► After thermal annealing at 800 °C nanoparticles on the sample surface were revealed. ► After 1000 °C annealing Zn atoms are revealed in the near-surface layer only. ► XRD confirms a presence of Zn containing phases after 700-900 °C annealing.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 267, 15 February 2013, Pages 97-100
نویسندگان
, , , ,