کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5364307 | 1388314 | 2007 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Imaging characterization of carbon nanotube tips modified using a focused ion beam
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
A carbon nanotube (CNT) tip, which assembled on the sharp end of a Si tip by dielectrophoresis, was structurally modified using focused ion beam (FIB). We described the imaging characterization of the FIB-modified CNT tip in noncontact AFM mode in terms of wear, deep trench accessibility, and imaging resolution. Compared to a conventional Si tip, the FIB-modified CNT tip was superior, especially for prolonged scanning over 10Â h. We conclude that modified CNT tips have the potential to obtain high-quality images of nanoscale structures.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 253, Issue 16, 15 June 2007, Pages 6872-6877
Journal: Applied Surface Science - Volume 253, Issue 16, 15 June 2007, Pages 6872-6877
نویسندگان
Young-Hyun Shin, Jin-Won Song, Eung-Sug Lee, Chang-Soo Han,