کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5364448 | 1388316 | 2009 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Electronic properties of thin films of laser-ablated Al2O3
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The composition, the mass density, the optical energy gap, the complex dielectric function and refraction index of the films have been calculated and compared with the results obtained from our starting target material and with the literature. The morphology of the deposited samples has been analyzed by the AFM technique.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 255, Issue 7, 15 January 2009, Pages 4123-4128
Journal: Applied Surface Science - Volume 255, Issue 7, 15 January 2009, Pages 4123-4128
نویسندگان
A.M. Mezzasalma, G. Mondio, T. Serafino, F. Caridi, L. Torrisi,