کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5365738 | 1388336 | 2010 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Thermal stability of CdZnO thin films grown by molecular-beam epitaxy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
CdZnO thin films with near-band-edge (NBE) photoluminescence (PL) emission from 2.39 eV to 2.74 eV were grown by plasma-assisted molecular-beam epitaxy on c-plane sapphire substrates with 800 °C in situ annealing. CdZnO thin films evolve from pure wurtzite (wz) structure, to mixture of wz and rock-salt (rs) structures confirmed by X-ray diffraction studies. Rapid-thermo-annealing (RTA) was performed on in situ annealed CdZnO samples. Pure wz CdZnO shows insignificant NBE PL peak shift after RTA, while mixture structure CdZnO shows evident blue shifts due to phase change after annealing, indicating the rs phase CdZnO changes to wz phase CdZnO during RTA process.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 256, Issue 14, 1 May 2010, Pages 4734-4737
Journal: Applied Surface Science - Volume 256, Issue 14, 1 May 2010, Pages 4734-4737
نویسندگان
L. Li, Z. Yang, Z. Zuo, J.H. Lim, J.L. Liu,