کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5366084 | 1388343 | 2006 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Injection of holes at indium tin oxide/dendrimer interface: An explanation with new theory of thermionic emission at metal/organic interfaces
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The traditional theory of thermionic emission at metal/inorganic crystalline semiconductor interfaces is no longer applicable for the interface between a metal and an organic semiconductor. Under the assumption of thermalization of hot carriers in the organic semiconductor near the interface, a theory for thermionic emission of charge carriers at metal/organic semiconductor interfaces is developed. This theory is used to explain the experimental result from Samuel group [J.P.J. Markham, D.W. Samuel, S.-C. Lo, P.L. Burn, M. Weiter, H. Baessler, J. Appl. Phys. 95 (2004) 438] for the injection of holes from indium tin oxide into the dendrimer based on fac-tris(2-phenylpyridyl) iridium(III).
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 252, Issue 18, 15 July 2006, Pages 6275-6279
Journal: Applied Surface Science - Volume 252, Issue 18, 15 July 2006, Pages 6275-6279
نویسندگان
Ying-Quan Peng, Fei-Ping Lu,