کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5366965 | 1388358 | 2006 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Further indication of a low quartz structure at the SiO2/Si interface from coincidence Doppler broadening spectroscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Results from coincidence Doppler broadening (CDB) measurements on various Si samples and Brazilian quartz having low quartz structure are presented with the aim to give further strong indication of the existence of a low quartz structure, but not of Si divacancies as frequently considered, at the SiO2/Si interface.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 252, Issue 9, 28 February 2006, Pages 3368-3371
Journal: Applied Surface Science - Volume 252, Issue 9, 28 February 2006, Pages 3368-3371
نویسندگان
G. Brauer, F. Becvar, W. Anwand, W. Skorupa,