کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5367530 | 1388368 | 2009 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
RHEED study of titanium dioxide with pulsed laser deposition
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Reflection high-energy electron diffraction (RHEED) operated at high pressure has been used to monitor the growth of thin films of titanium dioxide (TiO2) on (1Â 0Â 0) magnesium oxide (MgO) substrates by pulsed laser deposition (PLD). The deposition is performed with a synthetic rutile TiO2 target at low fluence. The topography and structure of the deposited layers are characterized using in situ high pressure RHEED and atomic force microscope (AFM). Based on these observations the growth mode of the films is discussed. The results will be compared to earlier results obtained for the growth of TiN films on (1Â 0Â 0) MgO.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 255, Issue 10, 1 March 2009, Pages 5240-5244
Journal: Applied Surface Science - Volume 255, Issue 10, 1 March 2009, Pages 5240-5244
نویسندگان
I.L. Rasmussen, N. Pryds, J. Schou,