کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5370295 | 1388479 | 2006 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Range of Er ions in amorphous Si
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We have measured the range and range straggling for energetic 100-900 keV Er ions in amorphous Si by means of Rutherford backscattering followed by spectrum analysis. The results are compared with other experimental data and Monte Carlo (SRIM-2003) calculations. Our experimental results show that, although the measured values for both range and range straggling exceed the SRIM predictions, they are nevertheless consistent with trends that have been previously observed. We see no anomalous trends in range and range straggling parameters for the rare earth ions for implant energies E â¥Â 100 keV. We present a detailed consideration of 4He stopping powers in Si due to its crucial impact on RBS range measurements.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 253, Issue 2, 15 November 2006, Pages 937-943
Journal: Applied Surface Science - Volume 253, Issue 2, 15 November 2006, Pages 937-943
نویسندگان
J. Liu, W.N. Lennard, J.-K. Lee,