کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5370384 | 1388488 | 2006 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
I-V curve oscillation observed by atomic force microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: I-V curve oscillation observed by atomic force microscopy I-V curve oscillation observed by atomic force microscopy](/preview/png/5370384.png)
چکیده انگلیسی
Oscillation on the current-voltage curve measured by atomic force microscopy is observed when the distance between the tip and sample is large enough and beyond a critical value. The appearance of the oscillation is attributed to the excitation of electron standing waves between the tip and sample. From the first peak position and the voltage difference between the first two peaks on the current-voltage curve, the value of the work function at the detected point on silver film surface and the distance between the tip and the detected point can be calculated.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 252, Issue 16, 15 June 2006, Pages 5803-5807
Journal: Applied Surface Science - Volume 252, Issue 16, 15 June 2006, Pages 5803-5807
نویسندگان
L.X. Li, R.P. Liu, C.Z. Fan, M.Y. Lv, J. Li, W.K. Wang,