کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5378652 1504846 2016 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Transition of oxide film configuration and the critical stress inferred by scanning probe microscopy at nanoscale
ترجمه فارسی عنوان
انتقال پیکربندی فیلم اکسید و استرس انتقادی که توسط میکروسکوپ پروب اسکن شده در نانومواد تعیین شده است
کلمات کلیدی
میکروسکوپ پروب اسکن فیلم اکسید، فشار، نانومقیاس، سطح،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش مقاله
انتقال پیکربندی فیلم اکسید و استرس انتقادی که توسط میکروسکوپ پروب اسکن شده در نانومواد تعیین شده است
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Chemical Physics Letters - Volume 660, 1 September 2016, Pages 33-36
نویسندگان
, , , , ,