کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5378652 | 1504846 | 2016 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Transition of oxide film configuration and the critical stress inferred by scanning probe microscopy at nanoscale
ترجمه فارسی عنوان
انتقال پیکربندی فیلم اکسید و استرس انتقادی که توسط میکروسکوپ پروب اسکن شده در نانومواد تعیین شده است
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
میکروسکوپ پروب اسکن فیلم اکسید، فشار، نانومقیاس، سطح،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Chemical Physics Letters - Volume 660, 1 September 2016, Pages 33-36
Journal: Chemical Physics Letters - Volume 660, 1 September 2016, Pages 33-36
نویسندگان
Xufei Fang, Yan Li, Changxing Zhang, Xuelin Dong, Xue Feng,