کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5382149 | 1504933 | 2013 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Effects of ion beam-irradiated Si on atomic force microscope local oxidation
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠Cathodic oxidation nanolithography was demonstrated on the low-energy H+ ion beam irradiated silicon substrate. ⺠Giant oxide features with heights over 100 nm were fabricated by cathodic oxidation. ⺠The growth rate of the oxide features significantly increased on the H+ ion-irradiated substrate.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Chemical Physics Letters - Volume 566, 12 April 2013, Pages 44-49
Journal: Chemical Physics Letters - Volume 566, 12 April 2013, Pages 44-49
نویسندگان
H. Kim, S.-K. Kim, M.-K. Lee, S. Yun, Y. Song, K.-R. Kim, H. Shin, H. Lee,