کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5382149 1504933 2013 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Effects of ion beam-irradiated Si on atomic force microscope local oxidation
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Effects of ion beam-irradiated Si on atomic force microscope local oxidation
چکیده انگلیسی
► Cathodic oxidation nanolithography was demonstrated on the low-energy H+ ion beam irradiated silicon substrate. ► Giant oxide features with heights over 100 nm were fabricated by cathodic oxidation. ► The growth rate of the oxide features significantly increased on the H+ ion-irradiated substrate.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Chemical Physics Letters - Volume 566, 12 April 2013, Pages 44-49
نویسندگان
, , , , , , , ,