کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5383489 | 1504975 | 2012 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Enhancing image contrast and slicing electron pulses in 4D near field electron microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠Temporal and spatial localization in photon-induced near field electron microscopy. ⺠Temporal profile of gated electron comparable to that of optical pulse. ⺠Contrast enhancement at interfaces of materials and cell in spatial profile.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Chemical Physics Letters - Volume 521, 10 January 2012, Pages 1-6
Journal: Chemical Physics Letters - Volume 521, 10 January 2012, Pages 1-6
نویسندگان
Sang Tae Park, Ahmed H. Zewail,