| کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
|---|---|---|---|---|
| 5385509 | 1505039 | 2010 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Thickness-dependent electronic properties and molecular orientation of diradical metal complex thin films grown on SiO2
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Energy level diagram of diamagnetic diradical metal complexes in thin film on SiO2.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Chemical Physics Letters - Volume 487, Issues 1â3, 25 February 2010, Pages 67-70
Journal: Chemical Physics Letters - Volume 487, Issues 1â3, 25 February 2010, Pages 67-70
نویسندگان
Takuya Hosokai, Noritaka Mitsuo, Shin-ichiro Noro, Takayoshi Nakamura, Satoshi Kera, Kazuyuki Sakamoto, Nobuo Ueno,